矿石分析仪
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技术参数
| 能量分辨率 分析精度RSD 最低检出限 测定范围 元素含量分析范围 分析时间 | 100±5eV ≤0.05% Na≤0.1%；Mg、Al、Si≤0.05%；P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe≤0.001% 9F~92U 1ppm—99.99% 30-200秒（时间可选） |
| 光路结构 样品旋转台 X射线管 1次滤光片 真空系统 自动进样器 圆柱腔体 冷却方式 制冷方式 类型 | 适合粉末样品检测的上照式结构 电压：24V，电流：1.5A，旋转速度：4r/s Ag靶 5种（含OPEN为6种）自动切换 功率550W，抽气时间：10秒，抽气速率：4升/秒，真空度：10-2pa，内置停泵防返油装置 350mm(D)×300mm(W)×500mm(H)，行程150mm 170×39mm 风冷（附风扇） 电子制冷（无需液氮） 硅漂移检测器（FAST-SDD） |
| 测试环境 温度 相对湿度 电源 | 大气、真空 10~30℃（温度变化2℃hr以内、温度变化幅度在10℃以下） 35%-70%（但不得有结露） 输入电压：电压 AC220V±10V，频率：50Hz±5Hz |
| 分析原理 分析方法 测试对象 照射面积 | X射线荧光分析法 能量色散型 固体·液体·粉末 1、3、5、10mmΦ：4种自动切换 |
| 主机尺寸 主机重量 | 700(W)×650(D)×800(H)mm 约85kg |
性能参数
硬件结构
环境与操作条件
分析测试
尺寸与重量仪器特点
| 独特的上照射式光路结构，测量粉末样品具有光路短、激发效率高、不污染探测器、维护方便、测量精度高、稳定性能好 等优点； | |
| 采用美国Amptek公司最高性能的硅漂移探测器，结合自主知识产权的数字多道专利分析技术，仪器的分辨率优于100ev (Mnkα），对Na、Mg、Al等轻元素分辨率优于60ev，是目前同类型仪器分辨率最高的，从而有效的提高了元素特别Na、 Mg、Al等轻元素的检出限，比其他品牌同类仪器高出一个数量级，成为我们独特的分析优势之一; | |
| 自动进样，定位准确，进样空间大，粉末积灰易吸尘处理，维护方便； | |
| 样品可以旋转测量，360度无死角测量，可以最大程度减弱样品表面不均匀带来的测量偏差，测量结果更准确； | |
| 真空系统特殊设计，最大限度的提高了轻元素的灵敏度和稳定性。采用有专门控制单位的真空系统，消除了空气对低能X 射线的阻挡，30分钟不漏气，内置停泵防返油装置，充气时不返油到检测单元，大大提高了Na、Mg、Al、Si轻元素的检 测灵敏度； | |
| 采用自动寻峰、S标样测量等方式，通过校准S标样达到校准工作曲线的目的，确保了仪器短期稳定性和长期稳定性，一般 一年标定一次，无需频繁标定。 |
仪器光路结构
仪器分辨率
